25 Days
19 Hours
01 Minutes
36 Seconds

2024 年 4月 10日(四)

09:00-17:00

華南銀行國際會議中心 2 樓

概述

本次論壇將由 NI 全球副總帶來主題演講揭開序幕,針對當前市場關注的智能測試創新進行對談探討,分享前瞻策略與創新思維,探討 AI 在製造與測試領域的創新應用與實務經驗,勾勒測試技術發展與應用藍圖。

活動議程

時間

議程-主講者

09:00-09:30

報到與實機展示交流

09:30~10:20

主題演講

Luke Schreier
NI Global Sales & Marketing VP

10:20~10:30

茶歇與實機展示交流

10:30~12:30

大師對談:當 AI 遇上量測,台灣科技製造的最後一哩路
 
主持人:DIGITIMES 研究中心專案經理 姚嘉洋
與談人:
台積電 處長 戴定普
日月光 資深處長 黃俊傑
美超微台灣區 Edge Computing 業務總經理 曾仁德
鴻海研究院 AI 所 詹念怡博士
NI Optimal+ 應用工程部經理 謝欣穎
12:30~13:30

午餐

Track A
測試軟硬體專題
Track B
先進應用測試專題
Track C
使用者應用分享專題
13:30~14:00
提升測試軟體工作流程:發覺潛力與創新
 
國家儀器
揭秘無人機硬體迴路
(Hardware in the loop)
 
思渤科技
加速開發效率的 LabVIEW 新功能
 
國家儀器
14:00~14:30
從概念到現實:6G 及 NTN 原型開發的挑戰與突破
 
國家儀器
揭開寬能隙元件可靠度測試的面紗
 
國家儀器/蔚華科技
剖析 LabVIEW 設計架構與使用時機
 
LabVIEW 論壇高手群
14:30~14:50
茶歇與實機展示交流
14:50~15:20
提升功率半導體 PMIC 驗證與測試效率
 
優立測科技
矽光子測試挑戰與解決之道
 
思衛科技
嵌入式 RIO 案例分享
虛擬電廠微電網光充儲高速電力量測與控制應用
明志科大電機系
基於嵌入式系統的可攜式有機微量氣體分析儀與系統整合應用
創控科技
15:20-15:50
高頻、高精度高密度:PXI 於次世代射頻測試系統之實踐
 
國家儀器
運用 Power HIL 模擬驗證技術結合實時系統提升 EV 產品開發效率與安全等級
 
致茂電子
資料擷取 DAQ 案例分享
3D NIR 於半導體檢測應用
芯聖科技
應用 cDAQ 解碼馬達與減速機的 NVH 密碼
巨克富科技
15:50~16:10
茶點與實機展示交流
16:10-16:40
ML 與 AI 在測試過程中的革命性應用:驗證與製造測試的未來
 
國家儀器
矽光子光電測試系統一體化於探針台的應用
 
筑波科技
模組化儀器 PXI 案例分享
PXI 模組化平台打造智慧AI生產測試系統
統亞電子
探討高壓、高流、高頻、高溫技術的 WBG 靜態動態解決方案
佳測新技
16:40-17:00
歡樂抽獎

**活動主辦單位保留議程內容變更、活動流程變更之所有權利**

地點

華南銀行國際會議中心 2 樓

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