本次論壇將由 NI 全球副總帶來主題演講揭開序幕,針對當前市場關注的智能測試創新進行對談探討,分享前瞻策略與創新思維,探討 AI 在製造與測試領域的創新應用與實務經驗,勾勒測試技術發展與應用藍圖。
時間
議程-主講者
09:00-09:30
報到與實機展示交流
09:30~10:20
主題演講
Luke Schreier
NI Global Sales & Marketing VP
茶歇與實機展示交流
10:30~12:30
午餐
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華南銀行國際會議中心 2 樓