NI Test Forum 創新測試論壇 - 串聯關鍵量測數據

25 Days

19 Hours

01 Minutes

36 Seconds

2024 年 4月 10日(四)

09:00-17:00

華南銀行國際會議中心 2 樓

概述

活動議程

時間

議程-主講者

09:00-09:30

報到與實機展示交流

09:30~10:20

主題演講

Luke Schreier
NI Global Sales & Marketing VP

10:20~10:30

茶歇與實機展示交流

10:30~12:30

大師對談：當 AI 遇上量測，台灣科技製造的最後一哩路

主持人：DIGITIMES 研究中心專案經理姚嘉洋

與談人：

台積電處長戴定普

日月光資深處長黃俊傑

美超微台灣區 Edge Computing 業務總經理曾仁德

鴻海研究院 AI 所詹念怡博士

NI Optimal+ 應用工程部經理謝欣穎

12:30~13:30

午餐

Track A
測試軟硬體專題

Track B
先進應用測試專題

Track C
使用者應用分享專題

13:30~14:00

提升測試軟體工作流程：發覺潛力與創新

國家儀器

揭秘無人機硬體迴路
(Hardware in the loop)

思渤科技

加速開發效率的 LabVIEW 新功能

國家儀器

14:00~14:30

從概念到現實：6G 及 NTN 原型開發的挑戰與突破

國家儀器

揭開寬能隙元件可靠度測試的面紗

國家儀器/蔚華科技

剖析 LabVIEW 設計架構與使用時機

LabVIEW 論壇高手群

14:30~14:50

茶歇與實機展示交流

14:50~15:20

提升功率半導體 PMIC 驗證與測試效率

優立測科技

矽光子測試挑戰與解決之道

思衛科技

嵌入式 RIO 案例分享

虛擬電廠微電網光充儲高速電力量測與控制應用

明志科大電機系

基於嵌入式系統的可攜式有機微量氣體分析儀與系統整合應用

創控科技

15:20-15:50

高頻、高精度高密度：PXI 於次世代射頻測試系統之實踐

國家儀器

運用 Power HIL 模擬驗證技術結合實時系統提升 EV 產品開發效率與安全等級

致茂電子

資料擷取 DAQ 案例分享

3D NIR 於半導體檢測應用

芯聖科技

應用 cDAQ 解碼馬達與減速機的 NVH 密碼

巨克富科技

15:50~16:10

茶點與實機展示交流

16:10-16:40

ML 與 AI 在測試過程中的革命性應用：驗證與製造測試的未來

國家儀器

矽光子光電測試系統一體化於探針台的應用

筑波科技

模組化儀器 PXI 案例分享

PXI 模組化平台打造智慧AI生產測試系統

統亞電子

探討高壓、高流、高頻、高溫技術的 WBG 靜態動態解決方案

佳測新技

16:40-17:00

歡樂抽獎

**活動主辦單位保留議程內容變更、活動流程變更之所有權利**

地點

華南銀行國際會議中心 2 樓

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2025-04-10 09:00 AM - 2025-04-10 05:00 PM

華南銀行國際會議中心 2 樓

IT Knowledge Zone 是亞太地區變革性技術博客、市場活動和客戶案例的主要提供者，這些資源提供了深入的背景信息，幫助企業領導者做出明智的決策並掌握創新技術解決方案。

9, North Buona Vista Drive, # 02-01
The Metropolis Tower One
Singapore 138588

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